与传统Micro 接口相比，Type C接口有不区分正反面、可以通过3A的电流，实现快速充电等优势，所以Type C慢慢的成为众多手机的标配。但Type C也有很多的不足，比如Type C连接器公头和母座多次插拔导致接触电阻的上升；Type C连接器Pin与Pin之间的间距较小，头发、金属屑、咖啡渍、汗渍等杂物进入Type C连接器狭小空间里，导致充电端子处的Vbus 和GND 形成微短路；尤其是Type C连接器的结构更复杂，加工精度的问题也可导致接触电阻的不稳定。随着充电电流的不断提高，Type C 充电端口出现发热烧毁的现象呈现上升趋势，所以Type C充电端口的安全保护也成为众多手机厂家越来越关注的焦点。
添鑫是可提供一种在Type C Vbus上串联PTC的数据线热保护方案，此方案为在Type C端口的PCB上回流焊接贴片PTC(如下图所示），此方案有生产工艺简单、可靠性高等特点。
此方案工作原理为如果端口处异物的存在，在Type C端口就形成了一个低阻回路，手机充电器的电流可以经由Type C端口的低阻回路回到充电器电路中，也就是电流不会再流到手机内部（如下图所示）。此时端口温度急剧上升，热量通过热传导的方式传递到PTC，使PTC温度升高，当PTC温度达到动作温度时，PTC动作，切断充电回路，使充电端口温度下降，此方案可以有效的防止由于温度升高引起手机充电端口的烧毁。
模拟短路发热测试下端口温度变化曲线
从上图中可看到充电端口表面的温度控制在120℃以内，外壳表面温度控制在65℃以内。
